當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 質(zhì)譜系統(tǒng) > 等離子質(zhì)譜儀 ICP-MS > 二手NexION 2000PerkinEImer NexION 2000等離子體質(zhì)譜儀
Cassification
詳細(xì)介紹
PerkinEImer NexION 2000等離子體質(zhì)譜儀是一款專為復(fù)雜基體元素分析設(shè)計的三重四極桿電感耦合等離子體質(zhì)譜儀,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、環(huán)境監(jiān)測、食品檢測、及工業(yè)過程等領(lǐng)域,為痕量元素檢測提供解決方案。
一、半導(dǎo)體與微電子行業(yè)
冷等離子體
在分析半導(dǎo)體級鹽酸時,結(jié)合冷等離子體降低 Ar 離子化效率。
耐氫氟酸進(jìn)樣系統(tǒng)
標(biāo)配耐 HF 炬管和石英霧化器,直接分析含氟蝕刻液,無需復(fù)雜前處理,避免樣品污染風(fēng)險。
二、環(huán)境監(jiān)測
從地表水到土壤沉積物,PerkinEImer NexION 2000等離子體質(zhì)譜儀憑借全基體進(jìn)樣系統(tǒng)和通量分析能力,成為環(huán)境實驗室的工具
水體分析
直接處理高鹽廢水和海水,通過在線稀釋單元自動調(diào)整樣品濃度,同時分析 Na和 Cd等元素,動態(tài)范圍覆蓋廣。
土壤與沉積物
分析污染土壤時,結(jié)合 He 碰撞模式多原子干擾。
顆粒檢測功能可識別水體中的污染物。
三、材料科學(xué)與技術(shù)
顆粒表征
基于單顆粒 ICP-MS 技術(shù),可同時測定顆粒的成分、尺寸及團(tuán)聚狀態(tài)。
在石墨烯研究中,通過檢測殘留金屬催化劑的含量,優(yōu)化制備工藝以提升材料純度。
合金與涂層分析
分析高溫合金時,同步測定主量元素和痕量雜質(zhì),避免多次稀釋和重復(fù)進(jìn)樣。
四、食品安全
食品添加劑與污染物
檢測乳制品中的稀土元素時,啟用通用池的 O?反應(yīng)模式,將Ca,O?轉(zhuǎn)化為 CaO?,避免對Fe 的誤判。
分析奶粉中的碘含量時,采用 H?反應(yīng)去除Ar,Ar?對Se 的干擾。
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